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Vorgestellt wird ein Verfahren zum Testen integrierter Schaltungen (12), die ein Analog-Ausgangssignal (AS; 44, 46, 48; 58, 60, 62) liefern, mit den Schritten: Erzeugen einer Änderung eines Eingangssignals (40) der integrierten Schaltung (12), Erfassen einer Änderung des Ausgangssignals (AS; 44, 46, 48; 58, 60, 62) der integrierten Schaltung (12), die durch die Änderung des Eingangssignals (40) ausgelöst wurde, wenn eine vorbestimmte Bedingung (VB) erfüllt ist, und Vergleichen des erfassten Ausgangssignals (M; AS; 44, 46, 48; 58, 60, 62) mit wenigstens einem vorbestimmten Vergleichskriterium. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass die vorbestimmte Bedingung (VB) individuell für jede integrierte Schaltung (12) aus einem Zeitverhalten (ZV) des Ausgangssignals (AS; 44, 46, 48; 58, 60, 62) abgeleitet wird.
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