测量磁电阻元件中磁致伸缩的方法

摘要

本发明提供了一种直接测量磁电阻元件的所述磁致伸缩常数的方法。所述方法包括以下步骤：1)提供基底，它承载着一个或多个磁电阻元件；2)把所述基底插入弯曲夹具中；3)施加平行于所述基底的DC磁场；4)施加交变磁场，它垂直于所述基底并且平行于所述元件的磁电阻层；5)测量所述元件发出的信号；6)通过弯曲所述基底施加平行于所述基底的机械应力；以及7)改变所述DC磁场，直至达到施加所述机械应力之前测量出的信号。

主权项

1.一种直接测量磁电阻元件的磁致伸缩常数的方法，其特征在于以下步骤：提供基底，它承载着一个或多个磁电阻元件；把所述基底插入弯曲夹具中；施加平行于所述基底的DC磁场；施加交变磁场，它垂直于所述基底并且平行于所述元件的磁电阻层；测量所述元件发出的信号；通过弯曲所述基底施加平行于所述基底的机械应力；以及改变所述DC磁场，直至达到施加所述机械应力之前测量出的信号。