发明名称 | 非挥发性记忆体写入过程的位元开关压降补偿 | ||
摘要 | 一种控管供应电压的方法,藉以在半导体记忆体装置内提供位元线电压,其中位元线电压系在通过位元开关之后,被供应给隶属于位元线的记忆体晶胞。该方法会侦测提供给记忆体晶胞的位元线电流。供应电压会随侦测到的位元线电流调整,以至少补偿一部份通过位元开关的压降,而此压降至少有部分受到位元线电流影响。 | ||
申请公布号 | TW200535863 | 申请公布日期 | 2005.11.01 |
申请号 | TW093111395 | 申请日期 | 2004.04.23 |
申请人 | 晶豪科技股份有限公司 | 发明人 | 陈宗仁 |
分类号 | G11C7/12 | 主分类号 | G11C7/12 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市科学园区工业东四路23号 |