发明名称 非挥发性记忆体写入过程的位元开关压降补偿
摘要 一种控管供应电压的方法,藉以在半导体记忆体装置内提供位元线电压,其中位元线电压系在通过位元开关之后,被供应给隶属于位元线的记忆体晶胞。该方法会侦测提供给记忆体晶胞的位元线电流。供应电压会随侦测到的位元线电流调整,以至少补偿一部份通过位元开关的压降,而此压降至少有部分受到位元线电流影响。
申请公布号 TW200535863 申请公布日期 2005.11.01
申请号 TW093111395 申请日期 2004.04.23
申请人 晶豪科技股份有限公司 发明人 陈宗仁
分类号 G11C7/12 主分类号 G11C7/12
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市科学园区工业东四路23号