发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 本发明之记忆器阵列之记忆单元系用以记忆2位元。记忆器阵列用感测放大器在验证时输出2位元。页缓冲器之各2位元记忆朝向对应之记忆单元写入之写入目标值。遮罩缓冲之各位元记忆用以决定朝向对应之记忆单元进行处理的值。写入驱动器在与被选择之记忆单元对应之遮罩缓冲器内之位元为「0」时,施加写入脉波。验证电路使从记忆器阵列用感测放大器输出之2位元和页缓冲器内之对应2位元进行比较,在比较结果为一致时,假如对应之遮罩缓冲器内之位元为「0」,就重写成为「1」。
申请公布号 TW200535850 申请公布日期 2005.11.01
申请号 TW094108567 申请日期 2005.03.21
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 藤泽友之;柴原辉;三谷秀德;神田明彦
分类号 G11C16/04 主分类号 G11C16/04
代理机构 代理人 赖经臣
主权项
地址 日本
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