| 主权项 |
1.一种侦测物体通过之方法,系藉由使用一光学侦测装置,该光学侦测装置含有复数个发光元件,及与该些发光元件相对放置之复数个接收元件,该侦测物体通过之方法至少包含:以一循环时间逐一且循环地启动该每一发光元件发射光线;启动该些接收元件至少其中之一,以接收由该每一发光元件发射之光线;及当一物体通过该光学侦测装置,使得该些接收元件至少其中之一未接收到该每一发光元件发射之光线时,产生一通过信号。2.如申请专利范围第1项所述之侦测物体通过之方法,其中该循环时间小于该物体通过该光学侦测装置之时间。3.如申请专利范围第1项所述之侦测物体通过之方法,其中该循环时间小于 ,H系为该物体开始落下时距离该光学侦测装置之高度,h系为该物体之高度,且g为重力加速度。4.如申请专利范围第1项所述之侦测物体通过之方法,其中该些发光元件为发光二极体。5.如申请专利范围第1项所述之侦测物体通过之方法,其中该侦测方法用于一自动贩卖装置。6.如申请专利范围第1项所述之侦测物体通过之方法,其中该侦测方法用于一保全系统。7.一种侦测物体通过之光学侦测装置,该光学侦测装置至少包含:复数个发光元件,系配置于该光学侦测装置之一侧;复数个接收元件,系对应于该些发光元件,配置于该光学侦测装置之另一侧;一发光元件控制电路,系与该些发光元件耦接,并以一循环时间逐一且循环地启动该每一发光元件发射光线;及一接收元件控制电路,系与该些接收元件耦接,并启动该些接收元件至少其中之一,以接收由该每一发光元件发射之光线,且当一物体通过该光学侦测装置,使得该些接收元件至少其中之一未接收到该每一发光元件发射之光线时,产生一通过信号。8.如申请专利范围第7项所述之光学侦测装置,其中该循环时间小于该物体通过该光学侦测装置之时间。9.如申请专利范围第7项所述之光学侦测装置,其中该循环时间小于,H系为该物体开始落下时距离该光学侦测装置之高度,h系为该物体之高度,且g为重力加速度。10.如申请专利范围第7项所述之光学侦测装置,其中该些发光元件为发光二极体。11.如申请专利范围第7项所述之光学侦测装置,其中该光学侦测装置用于一自动贩卖装置。12.如申请专利范围第7项所述之光学侦测装置,其中该光学侦测装置用于一保全系统。图式简单说明:第1图系绘示习知技艺中使用光学侦测装置侦测物体通过之侧视图。第2图系绘示根据本发明之侦测方法流程图。第3A图至第3E图系绘示根据本发明一较佳具体实施例之侧视图。第4A图至第4E图系绘示根据本发明一较佳具体实施例之侧视图。第5图系绘示根据本发明另一较佳具体实施例之侧视图。第6图系绘示根据本发明另一较佳具体实施例之侧视图。第7图系绘示根据本发明之光学侦测装置方块图。 |
