发明名称 电子融丝及其程式化与删除其程式的方法
摘要 本发明系有关一利用金属氧半导体(MOS)氧化层崩溃(oxide breakdown)原理的改良式可程式化电子融丝(programmable electrical fuse)。该电子融丝包含一具有第一闸宽度的可程式化金属氧半导体,一具有比该第一闸宽度略小的第二闸宽度的参考金属氧半导体,以及一感测放大器,用以侦测电流差异并产生对应的逻辑讯号。在一实施例中,该电子融丝只能程式化(program)一次以改变其中逻辑状态,藉以提供一可改变的逻辑讯号。实施方法为,透过施加一过电压讯号(overvoltage)至该可程式化金属氧半导体使其氧化层崩溃。因该可程式化金属氧半导体和该参考金属氧半导体位在感测放大器的相对两侧,藉短路该可程式化金属氧半导体可产生相反的逻辑讯号。在另一实施例中,电子融丝可以藉由崩溃感测放大器中相对两侧的金属氧半导体中的氧化层,重复多次程式化或删除程式化状态(erase)。
申请公布号 TW200535856 申请公布日期 2005.11.01
申请号 TW093128976 申请日期 2004.09.24
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 罗瑞钦;邹宗成;吴经纬
分类号 G11C17/18;G11C16/34 主分类号 G11C17/18
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号