发明名称 METHOD AND APPLIANCE FOR GENERATION OF TEST CURRENTS AND MEASUREMENT OF VOLTAGE DROP CAUSED BY THESE CURRENTS
摘要
申请公布号 PL367369(A1) 申请公布日期 2005.10.31
申请号 PL20040367369 申请日期 2004.04.19
申请人 WILINSKI JAN;WILINSKA JANINA 发明人 WILINSKI JAN
分类号 G01R19/00 主分类号 G01R19/00
代理机构 代理人
主权项
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