发明名称 |
System zur computergestützten Überwachung eines Querprofils eines Qualitätsparameters einer Materialbahn |
摘要 |
Ein System zur computergestützten Überwachung eines Querprofils eines Qualitätsparameters einer Materialbahn, insbesondere Papier- oder Kartonbahn, bei der Herstellung und/oder Veredlung umfasst eine Messeinrichtung zur Messung des Querprofils, wenigstens eine computerbasierte Operations- und Verknüpfungseinheit zur Ermittlung der Standardabweichungen von wenigstens zwei für unterschiedliche Störungen in Form unterschiedlicher Peakgruppen im gemessenen Querprofil repräsentativen Störungsprofilen, wobei sich die verschiedenen Peakgruppen dadurch unterscheiden, dass deren Peaks in unterschiedlichen Bereichen liegende Breiten aufweisen, sowie Mittel zum Speichern, zur Anzeige und/oder zur Weiterverarbeitung der ermittelten Standardabweichungen.
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申请公布号 |
DE10350743(A1) |
申请公布日期 |
2005.10.27 |
申请号 |
DE20031050743 |
申请日期 |
2003.10.30 |
申请人 |
VOITH PAPER PATENT GMBH |
发明人 |
GRABSCHEID, JOACHIM;AUGSCHELLER, THOMAS;HERMANN, KLAUS;WEGMANN, FLORIAN;MEYER, ROLAND;KLEISER, GEORG |
分类号 |
D21G9/00;(IPC1-7):G01B21/20;B65H26/00;D21F7/00 |
主分类号 |
D21G9/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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