发明名称 | 光学扫描设备 | ||
摘要 | 光学扫描设备1使用差分干涉对比法从光学记录载体2检测信息信号。产生两条射束13a、13b,并将其聚焦为两个不同的光点15a、15b,所述光点分别沿光学记录载体的信息层上的数据轨道移动。所述光点在纹脊和凹坑上的相对位置可在反射射束17a、17b之间产生光程差。所述光程差引起所述射束干涉相长或相消,其取决于光点的数据轨道上的相对纹脊/凹坑位置。所述干涉引起可检测信号的产生,所述信号代表信息层4上从凹坑向纹脊的过渡,反之亦然。 | ||
申请公布号 | CN1689084A | 申请公布日期 | 2005.10.26 |
申请号 | CN03824223.0 | 申请日期 | 2003.09.12 |
申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | C·T·H·F·里伊登鲍姆;T·W·图克科 |
分类号 | G11B7/125 | 主分类号 | G11B7/125 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 邹光新;刘杰 |
主权项 | 1.一种用于扫描光学记录载体的信息层的光学扫描设备,所述信息层包括以一系列的凹坑和纹脊以及凹坑和纹脊之间的过渡区的形式设置的数据轨道,所述设备包括用于产生辐射的辐射源和用于将辐射束传向光学记录载体并在光学记录载体的扫描之后将其传向检测系统的光学装置,所述光学装置产生两条射束,所述两条射束在信息层上形成两个彼此偏移的相应扫描光点,其特征在于,光学装置适用于沿数据轨道的方向对光点进行彼此之间的排列,并且检测系统被设置用于检测作为由两条射束的光程长度差所引起干涉的结果的反射射束的变化,所述差表示数据轨道上凹坑与纹脊之间的过渡区。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |