发明名称 Method and apparatus for the testing of connections of an electronic apparatus
摘要
申请公布号 EP0571179(B1) 申请公布日期 2005.10.26
申请号 EP19930303836 申请日期 1993.05.18
申请人 SONY CORPORATION 发明人 OKUMOTO, KOJI;MATSUNO, KATSUMI;SHIONO, TORU;SENUMA, TOSHITAKA;FUKUDA, TOKUYA;TAKADA, SHINJI
分类号 G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/318;G06F11/26 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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