高频记忆体测试治具结构

摘要

一种「高频记忆体测试治具结构」，主要系包含针座固定板、定位框、压板及上盖，其中，该针座固定板系固定于一PC板，于该固定板设以供微型探针穿设并连接于PC板之透孔，该定位框则设于固定板上方，使待测之记忆体置于固定板后藉由上盖盖合，进而使记忆体之脚位接触于探针，以构成测试作业，降低记忆体与PCB之阻抗，且可缩小延迟时间，以供测试更高之频率。

主权项

1.一种「高频率记忆体测试治具结构」,包含: 一PC板; 一针座固定下板,系设于PC板上方,其设有供探针穿 设之通孔; 一针座固定上板,系叠置于针座固定下板,其设有 与下板对应供探针穿设之通孔; 一定位框,系于侧边设有供探针穿设之并排透孔, 外缘两侧则分别设有卡勾; 一上盖,其底缘设有一槽体,以供一压板套置固定, 两侧分别设有固定孔,使两扣勾固定于该固定孔以 形成可活动状; 藉由前述构件的组合,构成一高频记忆体测试治具 ,使待测之记忆体置于定位框内,进而使记忆体之 脚位接触于两侧之探针,再将上盖盖合后使扣勾底 缘勾持于定位框之卡勾形成固定,以构成测试作业 。 图式简单说明: 第一图系本创作之立体图。 第二图系本创作之立体分解图。 第三图系本创作之立体剖视图。 第四、五图系本创作之使用实施例图。