发明名称 测试卡
摘要 本实用新型公开一种测试卡,用于测试待测电路板的电磁兼容性效应,其至少包括:与待测电路板电性相连以用于输入待测信号的输入接口;与输入接口电性连接以用于滤波所输入的待测信号的可调滤波电路;与可调滤波电路的另一端电性连接且用于输出经过滤波后的待测信号的输出接口。使用本实用新型的测试卡,可以避免直接对电容、电感等滤波器件的多次焊接插拔,避免了在上述插拔过程中损坏滤波器件的引脚的情况发生,可大大提高对于滤波器件的使用安全性。
申请公布号 CN2735354Y 申请公布日期 2005.10.19
申请号 CN200420036607.7 申请日期 2004.06.22
申请人 上海环达计算机科技有限公司 发明人 周立东;林启仁
分类号 G01R29/00;G01R29/08;G06F11/22 主分类号 G01R29/00
代理机构 上海翼胜专利事务所 代理人 翟羽
主权项 1.一种测试卡,用于改善待测电路板的电磁兼容性效应,其特征在于,至少包括:输入接口,与待测电路板电性连接以用于输入待测信号;可调滤波电路与输入接口电性连接以用于滤波所输入的待测信号;输出接口,与可调滤波电路的电性连接以用于输出经过滤波后的信号。
地址 200040上海市静安区南京西路1486号2号楼