探针元件及其测试卡

摘要

一种探针元件及其测试卡。为提供一种可自动调整施加于待测积体电路元件的针压、自动中心对准的半导体元件测试部件，提出本发明，探针元件包括绝缘本体、至少一个设置于绝缘本体中的承载构件、设置于承载构件中心的探针及设置于绝缘本体中且电气连接于承载构件的电讯号导线；测试卡包含设有数个测试接点的电路板及组设数个探针元件的探针座；电路板设有数个电气连接数个测试接点及电路板下表面的导电通路；探针元件包括绝缘本体、至少一个设置于绝缘本体中的承载构件、设置于承载构件的中心的探针及设置于绝缘本体中且电气连接于承载构件及电路板导电通路的电讯号导线。

主权项

1、一种探针元件，它包括探针；其特征在于它还包括绝缘本体、至少一个设置于绝缘本体中的承载构件及设置于绝缘本体中且电气连接于承载构件的电讯号导线；探针设置于承载构件的中心。