束流发射度自动测量和粒子束聚集自动调节方法

摘要

粒子束发射度测量和聚焦透镜的研究始终伴随着加速器的发展而发展。但以往的研究基本上将粒子束测量与聚焦分立，各自单独进行的。本发明是将束流测量和聚焦结合起来，由计算机(PC机)对测量和聚焦同时进行自动控制。由计算机发出测量指令，读取数据，获得发射度参数，经过计算得出所需要的束斑参数和相应的聚焦参数，再将该聚焦参数传给聚焦装置(透镜)，改善束流品质。束流品质提高了，就可能减少束流与瞄准器的碰撞机会，可使现有的束斑缩小至2-3μm或更小。本发明可用于加速器束线自动进行束流监测和束品质改进，特别适用需要小束斑的装置上，也可广泛用于离子光学、电子光学及粒子加速器等领域。

主权项

1、束流发射度自动测量和粒子束聚焦自动调节方法，其特征在于该方法的步骤如下：(1)、计算机[6]发出测量指令，由输入数据控制器[4]控制束流测量仪器[2]进入束流管道，进行测量并读取数据；(2)、束流测量仪器[2]获取横向发射度参数，并启动数据输入程序；(3)、测量结束，计算机[6]发出使束流测量仪器[2]退出束流管道的指令；(4)、数据输入程序启动多粒子模拟计算程序，对透镜聚焦进行寻优计算，计算出使瞄准器入口处获得聚焦束或束腰的透镜参数，并进行优化处理，(5)、优化后的透镜参数通过输出数据控制器[5]送给透镜[3]，(6)、改变透镜[3]的电磁参数，完成粒子束聚焦或散焦的自动调节。