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发明名称
METHOD FOR TESTING WAFER
摘要
申请公布号
KR20050099772(A)
申请公布日期
2005.10.17
申请号
KR20040024964
申请日期
2004.04.12
申请人
HYNIX SEMICONDUCTOR INC.
发明人
YIM, DONG GYU
分类号
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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