发明名称 晶圆结构及其重布层之形成方法
摘要 本发明系关于一种晶圆结构中重布层之形成方法,包括:(a)提供一晶圆,该晶圆上具有复数个导体结构及一第一保护层,该第一保护层系覆盖该晶圆,且暴露出该等导体结构之一表面;(b)形成一第二保护层于该第一保护层之上;(c)选择性地移除部分该第二保护层,使其具有与预定线路相符之开槽,该开槽暴露出该等导体结构之一表面;(d)形成一重布层于该开槽中;及(e)形成一第三保护层于该第二保护层及该重布层之上。藉此,将重布层紧密地"嵌入"于该第二保护层中,避免重布层发生脱层之现象。
申请公布号 TW200534457 申请公布日期 2005.10.16
申请号 TW093110006 申请日期 2004.04.09
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 黄敏龙
分类号 H01L23/522 主分类号 H01L23/522
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 高雄市楠梓加工区经三路26号