发明名称 微小试片取放方法及其装置
摘要 一种微小试片取放方法及其装置(E),用以对于一晶圆或晶粒或生物有机体上所切割下来之微小TEM试片进行吸取,随后并将此TEM试片放置于一碳膜之上。取放装置(E)包括一撷取单元(1)与一电源供应单元(2)。撷取单元(1)具有一作用面(120),此作用面(120)系用以与TEM试片(M)之间进行接触。电源供应单元(2)系包括有一第一连接部(21)与一第二连接部(22)。当电源供应单元(2)之第一连接部(21)以相对于第二连接部(22)而连接于撷取单元(1)且持续进行增加电压的作用下,于撷取单元(1)之作用面(120)之极性(负)系相反于电源供应单元(2)之第一连接部(21)的极性(正),如此可藉由撷取单元(1)之作用面(120)之吸引力以吸附位于晶圆之上的TEM试片(M),随后调整电源供应单元(2)之极性及电压,如此即可藉由撷取单元(1)之作用面(120)之排斥力将其所吸附TEM试片(M)放置于碳膜之上。
申请公布号 TW200533905 申请公布日期 2005.10.16
申请号 TW093109573 申请日期 2004.04.07
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 周业甯;邱华琦
分类号 G01N1/28;H01J37/26 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹县新竹科学工业园区园区三路123号