发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Justierung der beiden Objektive in einer 4Pi-Anordnung
摘要 Ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Justierung der beiden Objektive (19, 20) in einer 4Pi-Anordnung eines vorzugsweise konfokalen Scanmikroskops (1), wobei mindestens eines der Objektive (19, 20) relativ zu dem anderen Objektiv (20, 19) bewegbar ist, ist im Hinblick auf eine einfache Durchführbarkeit der Justierung sowie im Hinblick auf eine hohe Stabilität der Justierung über einen langen Zeitraum dadurch gekennzeichnet, dass ein Referenzobjekt in den Pupillen der Objektive (19, 20) abgebildet wird, dass aus den Abbildungen des Referenzobjekts für jedes Objektiv (19, 20) ein eigenes Fourier-Bild erzeugt wird und dass durch Bewegen zumindest eines der Objektive (19, 20) relativ zu dem anderen die beiden Fourier-Bilder des Referenzobjekts zur Deckung gebracht werden.
申请公布号 DE102004001441(A1) 申请公布日期 2005.10.13
申请号 DE200410001441 申请日期 2004.01.08
申请人 LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH 发明人 RYGIEL, REINER
分类号 G02B21/00;G02B21/18;G02B27/62;(IPC1-7):G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
地址