发明名称 Zusammensetzungen und Verfahren für das chemisch-mechanische Polieren von Siliciumdioxid und Siliciumnitrid
摘要 Die vorliegende Erfindung stellt eine wässrige Zusammensetzung zur Verfügung, die zum Polieren von Siliciumdioxid und Siliciumnitrid auf einem Halbleiterwafer geeignet ist und 0,01 bis 5 Gew.-% zwitterionische Verbindung, 0,01 bis 5 Gew.-% Carbonsäurepolymer, 0,02 bis 6 Gew.-% Schleifmittel, 0 bis 5 Gew.-% kationische Verbindung und zum Rest Wasser umfasst, wobei die zwitterionische Verbindung die folgende Struktur besitzt: DOLLAR F1 worin n eine ganze Zahl ist, Y Wasserstoff oder eine Alkylgruppe umfasst, Z Carboxyl, Sulfat oder Sauerstoff umfasst, M Stickstoff, Phosphor oder ein Schwefelatom umfasst und X¶1¶, X¶2¶ und X¶3¶ unabhängig Substituenten umfassen, die aus der Gruppe, umfassend Wasserstoff, eine Alkylgruppe und eine Arylgruppe, ausgewählt sind.
申请公布号 DE102005006614(A1) 申请公布日期 2005.10.13
申请号 DE200510006614 申请日期 2005.02.14
申请人 ROHM AND HAAS ELECTRONIC MATERIALS CMP HOLDINGS, INC. 发明人 LANE, SARAH J.;MUELLER, BRIAN L.;YU, CHARLES
分类号 B24B37/00;C09G1/02;C09K3/14;H01L21/304;H01L21/306;H01L21/3105;H01L21/762;(IPC1-7):C09G1/02;C09G1/04;C30B33/00;H01L21/302 主分类号 B24B37/00
代理机构 代理人
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