发明名称 电晶体测试模组的压入装置
摘要 本实用新型公开了一种电晶体测试模组的压入装置,其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置,电晶体压框为中空矩形框体,于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块,活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体,于一端设有至少一枢接部,驱动装置为可产生升降动作的装置,电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接,活动架一端的枢接部枢设于其它设备处,活动架另一端设有至少一驱动装置,本实用新型利用活动架的升降动作,以带动电晶体压框平衡升降,方便将数个电晶体一同置入及取出电晶体测试模组中进行测试工作,提高了测试速度,降低了质量管理成本,还可避免长时间作业所造成的手部红肿或伤害。
申请公布号 CN2733362Y 申请公布日期 2005.10.12
申请号 CN200420012526.3 申请日期 2004.09.23
申请人 资重兴 发明人 资重兴
分类号 G01R1/02;G01R31/00 主分类号 G01R1/02
代理机构 长春市四环专利事务所 代理人 张建成
主权项 1、一种电晶体测试模组的压入装置,其特征在于:其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置,电晶体压框为中空矩形框体,于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块,活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体,于一端设有至少一枢接部,驱动装置为可产生升降动作的装置,电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接,活动架一端的枢接部枢设于其它设备处,活动架另一端设有驱动装置。
地址 226500江苏省如皋市蒲行苑207栋303室