发明名称 | 电晶体测试模组的压入装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种电晶体测试模组的压入装置,其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置,电晶体压框为中空矩形框体,于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块,活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体,于一端设有至少一枢接部,驱动装置为可产生升降动作的装置,电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接,活动架一端的枢接部枢设于其它设备处,活动架另一端设有至少一驱动装置,本实用新型利用活动架的升降动作,以带动电晶体压框平衡升降,方便将数个电晶体一同置入及取出电晶体测试模组中进行测试工作,提高了测试速度,降低了质量管理成本,还可避免长时间作业所造成的手部红肿或伤害。 | ||
申请公布号 | CN2733362Y | 申请公布日期 | 2005.10.12 |
申请号 | CN200420012526.3 | 申请日期 | 2004.09.23 |
申请人 | 资重兴 | 发明人 | 资重兴 |
分类号 | G01R1/02;G01R31/00 | 主分类号 | G01R1/02 |
代理机构 | 长春市四环专利事务所 | 代理人 | 张建成 |
主权项 | 1、一种电晶体测试模组的压入装置,其特征在于:其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置,电晶体压框为中空矩形框体,于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块,活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体,于一端设有至少一枢接部,驱动装置为可产生升降动作的装置,电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接,活动架一端的枢接部枢设于其它设备处,活动架另一端设有驱动装置。 | ||
地址 | 226500江苏省如皋市蒲行苑207栋303室 |