发明名称 拾光装置
摘要 本发明公开了一种拾光装置。其包括:第一、第二半导体激光器(11、14)、让由光信息记录媒体(9或者12)反射的光衍射的全息照相元件(17)以及多个受光元件(18~23)。全息照相元件(17)具有两个或者更多个衍射区域,受光元件(18~23)与第一、第二半导体激光器(11、14)有间隔,在其两侧沿着将第一、第二半导体激光器(11、14)的光射出位置连接起来的连线的延长线排列。第一波长的光束(10)的由全息照相元件(17)衍射的衍射光及第二波长的光束13的由全息照相元件(17)衍射的衍射光聚集在一侧大致相同的位置上,而且在该位置上布置有多个受光元件(18~23)的一部分(18、19)。利用来自一侧及另一侧的受光元件(18~23)的信号获得聚焦/跟踪误差信号。
申请公布号 CN1682291A 申请公布日期 2005.10.12
申请号 CN03821486.5 申请日期 2003.09.08
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 西本雅彦;滨口真一;中森达哉;河内泰之
分类号 G11B7/09;G11B7/135 主分类号 G11B7/09
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1.一种拾光装置,其包括:射出第一波长的光束的第一半导体激光器,射出与所述第一波长不同的第二波长的光束的第二半导体激光器,让所述第一波长的光束或者所述第二波长的光束由光信息记录媒体反射了的光再衍射的全息照相元件,以及接收由所述全息照相元件衍射的衍射光的多个受光元件,其特征在于:所述全息照相元件,拥有两个或者更多个不同的衍射区域;所述多个受光元件,与所述第一半导体激光器和所述第二半导体激光器之间保持一定的间隔,以所述第一半导体激光器及所述第二半导体激光器所在的区域为基准布置在其两侧,所述多个受光元件,沿着将所述第一半导体激光器的光射出位置和所述第二半导体激光器的光射出位置连接起来的连线的延长线排列;所述第一波长的光束由所述全息照相元件衍射的衍射光及所述第二波长的光束由所述全息照相元件衍射的衍射光,聚集在位于所述两侧中之一侧的区域内大致同一个位置上,而且,在该位置上布置有所述多个受光元件的一部分;利用来自布置在所述两侧中之所述一侧和与其相反的另一侧的受光元件的信号,获得聚焦误差信号和跟踪误差信号。
地址 日本大阪府