发明名称 非易失性半导体存储器
摘要 存储单元阵列,具有由1个存储单元和夹着其的2个选择晶体管构成的单元。在1个区上,由连接在1条控制栅线CGL上的存储单元构成1页。在位线BLi上,连接具有闩锁功能的读出放大器。首先,将1页份的存储单元的数据读出到读出放大器,在读出放大器中改写数据,在进行页消除之后,将读出放大器的数据编程在1页份的存储单元上。通过在读出放大器中改写数据,就可以进行页单位或者字节单位的数据改写。
申请公布号 CN1223003C 申请公布日期 2005.10.12
申请号 CN99118829.2 申请日期 1999.09.10
申请人 株式会社东芝 发明人 作井康司;宫本顺一
分类号 H01L27/115;G11C16/00 主分类号 H01L27/115
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王永刚
主权项 1、一种非易失性半导体存储器,包括:存储单元阵列,具有由1个存储单元和夹着其的2个选择晶体管构成的存储单元组;位线,被连接在上述2个选择晶体管的一方;读出放大器,被连接在上述位线上具有闩锁功能;控制栅线,被连接在上述存储单元上;控制电路,在上述存储单元阵列中,当对连接在所选控制栅线上的1页份的存储单元中的被选择的存储单元进行数据变更的情况下,将上述1页份的存储单元的数据读出到上述读出放大器,在上述读出放大器中对与上述1页份的数据中的与上述所选存储单元对应的数据进行数据改写,消除上述1页份的存储单元的数据,将上述读出放大器的数据编程在上述1页份的存储单元中,其中:上述存储单元,具备具有浮动栅和控制栅的叠栅构造。
地址 日本神奈川县