发明名称 程式除错装置及程式除错方法
摘要 本发明系于第一记忆装置中收纳数个程式码,各程式码具有识别符;第二记忆装置具有至少一个记忆区域,收纳于第一记忆装置的数个程式码中所要执行的程式码,系收纳于此记忆区域;第一变数记忆区域记忆收纳于第二记忆装置内的程式码之识别符;控制部系当指令内容与第一变数记忆区域的内容一致时执行中断。
申请公布号 TWI241523 申请公布日期 2005.10.11
申请号 TW091123684 申请日期 2002.10.15
申请人 东芝股份有限公司 发明人 松本 展;三浦 贵
分类号 G06F9/00 主分类号 G06F9/00
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种程式除错装置,其包括:第一记忆装置,其收纳藉由识别符加以识别的数个程式码;第二记忆装置,其具有至少一个记忆区域,收纳于前述第一记忆装置之前述数个程式码中,所要执行的程式码系收纳于前述记忆区域;第一变数记忆区域,其记忆收纳于前述第二记忆装置的前述记忆区域之前述程式码的前述识别符;及控制部,其于输入的指令所指定的位址,当前述指令中设定的识别符与记忆于前述第一变数记忆区域的识别符一致的情形时,中断前述程式码之执行。2.如申请专利范围第1项之程式除错装置,其中前述数个程式码系含于具有至少一个前述程式码的任务中,前述识别符系包含前述任务的识别符,以及任务内的程式码之识别符。3.如申请专利范围第1项之程式除错装置,其中进一步包括:第二变数记忆区域,其收纳对应于前述各程式码的识别符。4.如申请专一利范围第1项之程式除错装置,其中收纳于前述第一变数记忆区域的识别符,系由控制程式的核心予以更新。5.如申请专利范围第1项之程式除错装置,其中收纳于前述第一变数记忆区域的识别符,系由控制程式的任务管理程式予以更新。6.如申请专利范围第1项之程式除错装置,其中进一步具有:DMA控制器,其系将记忆在前述第一记忆装置的程式码传送至前述第二记忆装置。7.如申请专利范围第6项之程式除错装置,其中收纳于前述第一变数记忆区域的识别符,系因应前述DMA控制器所进行的程式码传送而更新。8.如申请专利范围第1项之程式除错装置,其中收纳于前述第一变数记忆区域的识别符,系由进行前述程式码除错的除错器对其参照。9.如申请专利范围第1项之程式除错装置,其中前述第一变数记忆区域的识别符,系由模拟执行前述程式码的模拟器直接对其参照。10.一种程式除错方法,其包括:将记忆在第一记忆装置且藉由识别符加以识别的数个程式码中所要执行的程式码,传送至第二记忆装置的记忆区域;比较程式计数器的输出値与输入的中断指令中设定的位址;前述比较结果,当程式计数器的输出値与前述中断指令所设定的位址一致时,比较中断指令所设定的识别符与传送到前述第二记忆装置的记忆区域之程式码的识别符;前述识别符的比较结果,当两者的识别符一致时,中断前述程式码之执行。11.如申请专利范围第10项之程式除错方法,其中将程式码从前述第一记忆装置传送到前述第二记忆装置前,先将前述识别符设定至前述第一记忆装置内记忆的各程式码中。12.如申请专利范围第10项之程式除错方法,其中传送至前述第二记忆装置的记忆区域之程式码的识别符,系记忆于第一变数记忆区域。13.如申请专利范围第12项之程式除错方法,其中前述第一变数记忆区域的识别符,系由控制程式的核心予以更新。14.如申请专利范围第12项之程式除错方法,其中前述第一变数记忆区域的识别符,系由控制程式的任务管理程式子以更新。15.如申请专利范围第12项之程式除错方法,其中前述第一变数记忆区域的识别符,系因应DMA控制器所进行的程式码传送而更新。16.如申请专利范围第10项之程式除错方法,其中前述程式码及对应各程式码的识别符,系由除错器根据原始程式而产生。17.如申请专利范围第10项之程式除错方法,其中前述程式码及对应各程式码的识别符,系由编译器根据原始程式而产生。18.如申请专利范围第10项之程式除错方法,其中在比较前述程式计数器的输出値与输入的中断指令所设定的位址之前,于显示器上显示原始程式以及用来产生中断指令的图符;而因应前述图符之操作,并根据对应于显示在前述显示器上指定部分的原始程式之位址及前述识别符,产生前述中断指令或者相当于前述中断指令的资讯。19.如申请专利范围第18项之程式除错方法,其中于前述显示器上,同时显示:显示包含配置位址的原始码之第一视窗,以及显示包含执行位址的原始程式之第一视窗。20.一种程式除错方法,其包括:将记忆在第一记忆装置且藉由识别符加以识别的数个程式码中所要执行的程式码,复制到第二记忆装置的记忆区域,该前述记忆区域的程式码系具有记忆在前述第一记忆装置时表示程式码开头的开头位址,及执行位址;将中断指令写入已传送至前述记忆区域的程式码之第一位址;再将前述中断指令,写入前述第一记忆装置中剩余的第二位址,该第二位址系对应于前述程式码的前述第一位址。21.如申请专利范围第20项之程式除错方法,其中前述第二位址系将前述开头位址加上前述第一位址后求算而得。22.如申请专利范围第20项之程式除错方法,其中向除错器提供对应前述程式码的开头之开头位址及执行位址。23.如申请专利范围第20项之程式除错方法,其中将程式码从前述第一记忆装置传送到前述第二记忆装置前,先将前述识别符设定至前述第一记忆装置内记忆的各程式码中。24.如申请专利范围第20项之程式除错方法,其中传送至前述第二记忆装置的记忆区域之程式码的识别符,系记忆于第一变数记忆区域。25.如申请专利范围第24项之程式除错方法,其中前述第一变数记忆区域的识别符,系由控制程式的核心子以更新。26.如申请专利范围第24项之程式除错方法,其中前述第一变数记忆区域的识别符,系由控制程式的任务管理程式予以更新。27.如申请专利范围第24项之程式除错方法,其中前述第一变数记忆区域的识别符,系因应前述DMA控制器所进行的程式码传送而更新。28.如申请专利范围第20项之程式除错方法,其中程式码及对应各程式码的识别符,系由除错器根据原始程式而产生。29.如申请专利范围第20项之程式除错方法,其中程式码及对应各程式码的识别符,系由控制器根据原始程式而产生。30.如申请专利范围第20项之程式除错方法,其中在比较前述程式计数器的输出値与输入的中断指令所设定的位址之前,于显示器上显示原始程式以及用来产生中断指令的图符;而因应前述图符之操作,并根据对应于显示在前述显示器上指定部分的原始程式之位址及前述识别符,产生前述中断指令或者相当于前述中断指令的资讯。31.如申请专利范围第30项之程式除错方法,其中于前述显示器上,同时显示:显示包含配置位址的原始码之第一视窗,以及显示包含执行位址的原始程式之第一视窗。图式简单说明:图1为显示适用于本发明的第一种实施形态之一除错装置范例之架构图。图2为显示部分图1之架构图。图3为用以说明覆叠码之图。图4为具体显示图1、图2的构造之架构图。图5为显示中断指令的输入形式之图。图6为显示以模拟器进行除错的动作流程图。图7为显示本实施例中的除错标的之图。图8A、图8B为说明以实体装置进行除错的动作之图。图9A、图9B为显示本发明的第三实施形态之图,即用来说明码和ID的其他产生方法范例之图。图10为显示本发明的第四实施形态之图,即使用GUI输入中断指令之范例图。图11为显示图10的动作之流程图。图12为显示习知的除错器的动作之图。图13A至图13C为显示习知的软中断之范例图。图14A至图14D为显示习知的除错器的动作之图。
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