| 主权项 |
1.一种接收器I/Q失配校正方法,上述接收器具有执行xo[n]=Ap.xi[n]+Bp.x*i[n]之一I/Q校正模组,其中xi[n]xo[n]分别代表上述I/Q校正模组之输入与输出信号,上标*代表共轭复数,而Ap与Bp为校正参数,上述接收器I/Q失配校正方法包括下列步骤:产生一测试信号x(t),上述测试信号x(t)具有频率(fC+fT)Hz之基频波形,其中fC与fT为实数;执行I/Q解调以降低上述测试信号x(t)之中心频率fCHz,并输出一解调变信号xdem(t);转换上述解调变信号xdem(t)至一数位信号xdem[n];取得上述数位信号xdem[n]之测量値U1与U2,其中U1指示上述解调变信号xdem(t)于+fTHz之频率响应,而U2指示上述解调变信号xdem(t)于-fT Hz之频率响应;以及根据测量値U1与U2计算I/Q校正模组之校正参数Ap与Bp。2.如申请专利范围第1项所述之接收器I/Q失配校正方法,其中上述测量値U1与U2系由上述数位信号xdem[n]对应于+fTHz与-fT Hz之频率之傅立叶转换之系数而得。3.如申请专利范围第1项所述之接收器I/Q失配校正方法,其中上述测试信号4.如申请专利范围第1项所述之接收器I/Q失配校正方法,其中上述校正参数Ap与Bp为:其中系数、R以及S系根据上述测量値U1与U2而得。5.如申请专利范围第1项所述之接收器I/Q失配校正方法,其中上述系数、R以及S系根据下列关系而得:H=real(U1.U2);I=imag(U1.U2);以及G=|U1|2+|U2|2。6.如申请专利范围第5项所述之接收器I/Q失配校正方法,其中上述系数其中7.如申请专利范围第4项所述之接收器I/Q失配校正方法,其中更包括正规化上述校正参数Ap与Bp之步骤,使得上述I/Q校正模组之输入与输出信号功率相同。8.一种接收器I/Q失配校正装置,适用于一接收器,具有执行xo[n]=Ap.xi[n]+Bp.x*i[n]之一I/Q校正模组,其中xi[n]与xo[n]分别代表上述I/Q校正模组之输入与输出信号,上标*代表共轭复数,而Ap与Bp为校正参数,上述I/Q失配校正装置包括:一信号产生器,用以产生一测试信号x(t),上述测试信号x(t)具有频率(fC+fT)Hz之基频波形,其中fC与fT为实数;一解调器,用以执行I/Q解调以降低上述测试信号x(t)之中心频率fC Hz,并输出一解调变信号xdem(t);复数类比一数位转换器,用以转换上述解调变信号xdem(t)至一数位信号xdem[n];一校正器,用以取得上述数位信号xdem[n]之测量値U1与U2,其中U1指示上述解调变信号xdem(t)于+fT Hz之频率响应,而U2指示上述解调变信号xdem(t)于-fT Hz之频率响应;以及一处理器,用以根据测量値U1与U2计算I/Q校正模组之校正参数Ap与Bp。9.如申请专利范围第8项所述之接收器I/Q失配校正装置,其中上述测量値U1与U2系由上述数位信号xdem[n]对应于+fT Hz与-fT Hz之频率之傅立叶转换之系数而得。10.如申请专利范围第8项所述之接收器I/Q失配校正装置,其中上述测试信号11.如申请专利范围第8项所述之接收器I/Q失配校正装置,其中上述校正参数Ap与Bp为:其中系数、R以及S系根据上述测量値U1与U2而得。12.如申请专利范围第11项所述之接收器I/Q失配校正装置,其中上述系数、R以及S系根据下列关系而得:H=real(U1.U2);I=imag(U1.U2);以及G=|U1|2+|U2|2。13.如申请专利范围第12项所述之接收器I/Q失配校正装置,其中上述系数其中14.如申请专利范围第11项所述之接收器I/Q失配校正装置,其中上述校正参数Ap与Bp更被正规化,使得上述I/Q校正模组之输入与输出信号功率相同。图式简单说明:第1图系显示美国公开说明书编号285151所述接收器之增益与相位失配之校正电路。第2图系显示美国专利编号5949821所揭露之根据峰値判断来校正接收信号之I/Q成份之相位与增益失配之装置。第3图系显示根据本发明实施例所述之接收器之I/Q频道失配之校正架构。第4图系显示根据本发明实施例所述之接收器之I/Q频道失配之校正方法。 |
