METHOD FOR TESTING PHASE LOCKED LOOP WITHIN SERIALIZE/DESERIALIZE FOR HIGH SPEED DATA TRANSMISSION,申请号KR20040021570-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR TESTING PHASE LOCKED LOOP WITHIN SERIALIZE/DESERIALIZE FOR HIGH SPEED DATA TRANSMISSION
摘要
申请公布号	KR20050096387(A)	申请公布日期	2005.10.06
申请号	KR20040021570	申请日期	2004.03.30
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	YU, UN SANG
分类号	G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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