发明名称 |
辐射检测设备 |
摘要 |
在辐射检测装置中,α射线和β射线透过光屏蔽膜而屏蔽入射光。利用透过光屏蔽膜的α射线从第一闪烁体发射第一种光。第一闪烁体具有基于α射线的发射中心波长。利用透过光屏蔽膜的β射线在第二闪烁体中发射第二种光。第二闪烁体具有基于β射线的发射中心波长。用两个光检测器检测第一和第二种光。第一发射中心波长与第二发射中心波长彼此不同。 |
申请公布号 |
CN1221810C |
申请公布日期 |
2005.10.05 |
申请号 |
CN99122954.1 |
申请日期 |
1999.12.27 |
申请人 |
东芝株式会社 |
发明人 |
前川立行;隅田晃生;渡部和美;森本総一郎;小原快章 |
分类号 |
G01T1/202;G01T1/20 |
主分类号 |
G01T1/202 |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
韩宏 |
主权项 |
1.一种辐射检测设备,包括:一个光屏蔽膜,用于透过第一和第二辐射同时屏蔽入射的光;一个第一闪烁体,用于由透过光屏蔽膜的第一辐射发射第一种光,所述第一闪烁体具有基于第一辐射的发射中心波长;一个第二闪烁体,用于由透过光屏蔽膜的第二辐射发射第二种光,所述第二闪烁体具有基于第二辐射的发射中心波长;具有至少一个光检测器的检测装置,用于检测从第一闪烁体发射的第一种光和在第二闪烁体中发射的第二种光,和用于将第一和第二种光聚集到检测装置上的一个聚光盒,所述聚光盒具有用于对第一和第二种光漫反射的一个内表面和一个侧表面,所述光屏蔽膜安装在其上入射第一和第二辐射的侧表面上,所述第一和第二闪烁体设置在光屏蔽膜内部,其中所述检测装置包括第一和第二光检测器,每个光检测器具有对第一和第二种光中的每一种敏感的敏感表面;安装在第一光检测器的敏感表面上的第一滤光器;和安装在第二光检测器的敏感表面上的第二滤光器,所述第一滤光器适合于仅透射从第一闪烁体发射的第一种光,所述第二滤光器适合于仅透射在第二闪烁体中发射的第二种光,所述第一发射中心波长和所述第二发射中心波长互不相同,所述第一发射中心波长是第一闪烁体中发射的第一种光的波长并在第一闪烁体的辐射波长频带中具有峰值辐射强度,所述第二辐射中心波长是第二闪烁体中发射的第二种光的波长并在第二闪烁体的辐射波长频带中具有峰值辐射强度。 |
地址 |
日本神奈川 |