发明名称 |
陶瓷结构件的检查方法 |
摘要 |
本发明涉及陶瓷结构件检查方法。本发明提供的陶瓷结构件的检查方法,不仅能以非破坏、简便的方式,而且能在短时间内弄清陶瓷结构件内部缺陷的位置和大小,还能把握内部缺陷的正确位置和形状及大小等。该方法是,当沿着陶瓷结构件的整个周边照射X射线,且利用透过的X射线扫描所述陶瓷结构件的全周,测定断层面的X射线吸收系数(CT值)的分布时,照射X射线的X射线管的管电压是400~80kV,且所述X射线管的管电流是2~400mA。 |
申请公布号 |
CN1677099A |
申请公布日期 |
2005.10.05 |
申请号 |
CN200510056946.0 |
申请日期 |
2005.03.24 |
申请人 |
日本碍子株式会社 |
发明人 |
加藤茂树 |
分类号 |
G01N23/18;G06T1/00;G06T15/00 |
主分类号 |
G01N23/18 |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 |
代理人 |
熊志诚 |
主权项 |
1.一种陶瓷结构件的检查方法,其特征在于:当沿着陶瓷结构件的整个周边照射X射线,且利用透过的X射线扫描所述陶瓷结构件的全周,测定断层面的X射线吸收系数(CT值)的分布时,照射X射线的X射线管的管电压是400~80kV,且所述X射线管的管电流是2~400mA。 |
地址 |
日本爱知 |