发明名称 在开口中形成导电材料的方法和与其相关的结构
摘要 使用支撑层辅助平面化处理以在开口内形成导电材料(例如VIII族金属)的方法和结构。而且,这种方法和结构可以使用VIII族金属作为平面化处理的蚀刻终止或终点,随后蚀刻除去不需要的VIII族金属部分。在开口内提供导电材料(44)的一个典型方法包括,提供具有至少一个表面的基底组件,并提供通过基底组件表面限定的开口。开口由至少一个表面限定。至少一种导电材料(44)(例如至少一种VIII族金属,如铂和/或铑)形成在开口内限定该开口的至少一个表面上,并且形成在基底组件表面的一部分上。支撑膜(46)(例如氧化物材料)形成在导电材料上,并且填充材料(48)(例如光刻胶材料)形成在支撑膜的至少一部分上。所述填充材料至少填充开口。然后,至少开口外面的填充材料通过平面化除去。然后除去开口外部的支撑膜、开口外部的所述至少一种导电材料、开口内部的填充材料和开口内部的支撑膜。
申请公布号 CN1679160A 申请公布日期 2005.10.05
申请号 CN03820195.X 申请日期 2003.08.28
申请人 微米技术有限公司 发明人 H·E·罗德斯;R·H·莱恩
分类号 H01L21/768;H01L21/334 主分类号 H01L21/768
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 韦欣华;段晓玲
主权项 1.一种在开口中提供导电材料的方法,所述方法包括:提供具有至少一个表面的基底组件;提供穿过基底组件表面限定的开口,其中开口通过至少一个表面限定;至少一种导电材料形成在开口内部限定该开口的至少一个表面上,并形成在基底组件表面的至少一部分上;在所述至少一种导电材料上形成支撑膜;在支撑膜的至少一部分上形成填充材料,其中填充材料至少填充开口;通过平面化至少除去开口外的填充材料;除去开口外部的支撑膜;除去开口外的所述至少一种导电材料;除去开口内的填充材料;和除去开口内的支撑膜。
地址 美国爱达荷州