发明名称 射线照相装置和射线检测信号处理方法
摘要 在根据本发明的射线照相装置中,当射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式时,信号纠正器15利用存储在非标准图像缺陷信息存储器18B-18E中的缺陷信息纠正从FPD 2输出的X-射线检测信号。由于非标准X-射线的像素缺陷信息是通过像素缺陷信息转换器19从存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的标准X-射线图像的缺陷信息转换获得的,所以,不需要再次从FPD 2收集用于像素缺陷信息获得的输出信号。结果,可以不管射线检测元件是如何分配给X-射线图像中的像素的,迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常X-射线检测信号。
申请公布号 CN1678036A 申请公布日期 2005.10.05
申请号 CN200510062956.5 申请日期 2005.03.31
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 藤井圭一;冈村升一;足立晋;平泽伸也;吉牟田利典;田边晃一;浅井重哉;西村晓弘
分类号 H04N5/32;A61B6/00 主分类号 H04N5/32
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 王新华
主权项 1.一种具有(A)用于向要射线照相的对象发射射线的射线发射装置,和(B)带有多个排列在二维矩阵中的射线检测元件的二维射线检测器的射线照相装置,所述装置包括:(C)射线照相模式指定装置,用于有选择地指定获得标准射线照相图像的标准射线照相模式,和获得非标准射线照相图像的非标准射线照相模式;(D)标准图像缺陷信息存储装置,用于存储标准图像的像素缺陷信息;(E)像素缺陷信息转换装置,用于执行将存储在所述标准图像缺陷信息存储装置中的标准图像的像素缺陷信息转换成非标准图像的像素缺陷信息的转换处理过程;和(F)信号纠正装置,用于在射线照相模式指定装置指定标准射线照相模式时,根据标准图像的像素缺陷信息,和在射线照相模式指定装置指定非标准射线照相模式时,根据非标准图像的像素缺陷信息,纠正射线检测信号;其中所述标准射线照相图像是每个都具有排列在与射线检测元件相同的二维矩阵中的多个像素,并且射线检测元件是以一对一的关系分配给像素的图像;所述非标准射线照相图像是将射线检测元件与标准射线照相模式不同地分配给像素的图像;所述标准图像的像素缺陷信息是,包含对应于标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息;所述非标准图像的像素缺陷信息是,包含对应于非标准射线照相图像的对应像素的射线检测元件中存在或不存在元件对像素关系的缺陷的缺陷信息;和所述像素缺陷信息转换装置进行的转换成所述非标准图像的像素缺陷信息的所述转换处理过程包括,用于根据存储在所述标准图像缺陷信息存储装置中的标准图像像素缺陷信息,检查分配给非标准图像的像素的检测元件中是否存在即使一个有缺陷的射线检测元件,并确定带有分配给它的即使一个有缺陷的检测元件的像素为“有缺陷的”,和不带有分配给它的有缺陷的检测元件的像素是“无缺陷的”的缺陷确定处理过程。
地址 日本京都府