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发明名称 Semiconductor device and test method there-of
摘要
申请公布号 KR100518579(B1) 申请公布日期 2005.10.04
申请号 KR20030036333 申请日期 2003.06.05
申请人 发明人
分类号 G11C11/4193;G11C29/12;(IPC1-7):G11C11/419 主分类号 G11C11/4193
代理机构 代理人
主权项
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