发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 一种半导体装置之制造方法,其系包含:在由半导体基板上的元件而形成之凹凸上,形成氧化防止层以防止水分进入元件之第1成膜步骤;在该氧化防止层上,于氧化环境中藉由热处理形成氧化而可膨胀之膨胀层之第2成膜步骤;在该膨胀层上,于氧化环境中藉由热处理形成可流动之绝缘膜之第3成膜步骤;以及使形成有氧化防止层、膨胀层以及绝缘膜之前述半导体基板在氧化环境中进行热处理,在使绝缘膜产生流动化的同时使膨胀层产生氧化膨胀,藉此消灭产生于绝缘膜中的气泡之膨胀步骤。
申请公布号 TW200532745 申请公布日期 2005.10.01
申请号 TW093116383 申请日期 2004.06.08
申请人 石川岛播磨重工业股份有限公司 发明人 渡边智行;芳之内淳
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本