晶片级待测物验证环境以及方法

摘要

一种晶片级待测物的验证环境及方法，此验证环境包括有测试式样(test pattern)机制(mechanism)、输入机制、行为模组、比较输出机制，以及验证环境介面；藉由测试式样机制提供测试式样、输入机制将测试式样输入待测物、行为模组接收测试式样以模拟待测物依据测试式样运作之理想状态、比较输出机制以比较行为模组及待测物依据测试式样运作之结果、以及验证环境介面与待测物耦接以在验证过程中，即时地输出待测物之验证状态、验证环境之状态、以及调整验证环境之状态等步骤，以有效提高验证效能与验证报告品质。