发明名称 半导体机台之晶片承载机构表面清洁方法
摘要 一种半导体机台之晶片承载机构表面清洁方法,其中半导体机台系具有一溅镀室,溅镀室内设有一晶片载台用以承载晶片,其中晶片承载机构表面清洁方法系包括有下列步骤:调整半导体机台至一清洁状态,此时可产生一电浆,并利用电浆去清除晶片载台上之氧化污染物,再调整半导体机台至一释放状态,使电浆停止产生。而前述之清洁状态至少包括三个步骤:于溅镀室通入一保护气体;将晶片载台之射频功率加至一适当范围;维持晶片载台之射频功率在适当范围一段时间。前述之释放状态至少包括二个步骤:将晶片载台之射频功率归零;泄去溅镀室之保护气体。
申请公布号 TW200531754 申请公布日期 2005.10.01
申请号 TW093106909 申请日期 2004.03.16
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 张济云;蔡姚彬
分类号 B08B3/00;H01L21/203 主分类号 B08B3/00
代理机构 代理人 何文渊
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号