发明名称 半导体积体电路装置之制造方法
摘要 本发明系谋求在预烧试验中之半导体积体电路晶片之自动插入拔出之容易化。在半导体积体电路装置之预烧工序(S19)中,设置第1工序,其系将半导体积体电路装置之凸块电极定位于包含剥离机构之插座之垫者;第2工序,其系对半导体积体电路装置施加负载,藉以对上述垫推压上述凸块电极者;及第3工序,其系利用上述剥离机构对上述半导体积体电路装置施加与上述第2工序之负载施加方向反方向之力而由上述垫剥离上述凸块电极者;藉推起半导体积体电路装置而由上述垫剥离上述凸块电极,以达成在预烧试验中之半导体积体电路晶片之自动插入拔出之容易化。
申请公布号 TW200532837 申请公布日期 2005.10.01
申请号 TW093138493 申请日期 2004.12.10
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 槙平尚宏;今须诚士;佐藤齐尚
分类号 H01L21/66;H01L21/60 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本