发明名称 投影校准器
摘要 一种投影校准器,系用于转移光罩图案的影像至曝光物体上,包括:投影光学系统,以便在物体上形成光罩图案的影像;膨胀率决定器,以便测量物体的第一方向及第二方向的长度及决定第一膨胀率及第二膨胀率,其系分别根据物体的第一方向及第二方向的膨胀率;及放大率控制器,以便调整投影光学系统的放大率至介于该第一膨胀率及第二膨胀率之间的值。
申请公布号 TWI240850 申请公布日期 2005.10.01
申请号 TW091137346 申请日期 2002.12.25
申请人 宾得士股份有限公司 发明人 小林 义则;石桥 臣友;原 正人
分类号 G03F7/20;G03B27/00 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人 陈传岳 台北市大安区仁爱路3段136号15楼
主权项 1.一种投影校准器,用于转移光罩的光罩图案的影 像至曝光物体上,该投影校准器包括: 投影光学系统,其形成该光罩图案的影像至该物体 上; 膨胀率决定器,其测量该物体在第一方向及第二方 向的长度及根据该长度决定第一膨胀率及第二膨 胀率,该第一膨胀率及第二膨胀率分别为该物体在 该第一方向及第二方向的膨胀率;及 放大率控制器,其调整该投影光学系统的放大率至 介于该第一方向及第二方向膨胀率之间的値。 2.如申请专利范围第1项之投影校准器,其中该第一 方向及第二方向分别与该物体的纵方向及横方向 平行。 3.如申请专利范围第1项之投影校准器,其中该放大 率控制器调整该投影光学系统的放大率至该第一 膨胀率及第二方膨胀率的平均値。 4.如申请专利范围第1项之投影校准器,其中该放大 率控制器调整该投影光学系统的放大率至等于该 第一膨胀率及第二方膨胀率其中之一的値。 5.如申请专利范围第1项之投影校准器,其中该物体 具有至少两个第一标记沿该第一方向配置在其上 面,及至少两个第二标记沿该第二方向配置在其上 面,及 其中该膨胀率决定器系根据该第一标记之间的距 离决定在该第一方向之长度,及根据该第二标记之 间的距离决定在该第二方向之长度。 6.如申请专利范围第1项之投影校准器,其中该膨胀 率决定器包括: 摄影机,用以捕捉该物体的影像;及 影像处理器,适合从该摄影机捕获的影像决定该物 体的第一方向及第二方向的长度。 7.如申请专利范围第6项之投影校准器,其中该影像 处理器根据在该物体上形成的校准标记决定该长 度。 8.一种投影校准器,用于转移光罩的光罩图案的影 像至曝光物体上,该投影校准器包括: 投影光学系统,其形成该光罩图案的影像至该物体 上; 长度决定器,其测量该光罩及该物体的第一方向及 第二方向长度;及 放大率控制器,其调整该投影光学系统的放大率至 介于第一尺寸及第二尺寸比之间的値,该第一尺寸 及第二尺寸比分别为该第一及第二方向的物体长 度对该光罩长度比。 9.如申请专利范围第8项之投影校准器,其中该放大 率控制器调整该投影光学系统的放大率至该第一 方向及第二方向长度比的平均値。 10.如申请专利范围第8项之投影校准器,其中该放 大率控制器调整该投影光学系统的放大率至定义 为(12x+12y)/(1lx+1ly)之値,其中12x及12y分别代表该物 体在第一方向及第二方向的长度,及11x及lly分别代 表该光罩在第一方向及第二方向的长度。 11.如申请专利范围第8项之投影校准器,其中该长 度决定器根据至少两个沿该第一方向在该物体上 形成的标记决定该光罩及该物体在第一方向之长 度,及根据至少两个沿该第二方向在该物体上形成 的标记决定在第二方向之长度。 12.如申请专利范围第8项之投影校准器,其中该长 度决定器包括: 第一摄影机及第二摄影机,分别捕捉该光罩及该物 体的影像;及 影像处理器,适合从该第一摄影机及第二摄影机捕 获的影像决定该光罩及该物体的第一方向及第二 方向的长度。 13.如申请专利范围第12项之投影校准器,其中该影 像处理器根据在该光罩及该物体的各角落附近形 成的校准标记决定长度。 14.如申请专利范围第8项之投影校准器,其中该第 一方向及第二方向分别为该物体的纵方向及横方 向。 15.一种投影校准器,用于转移光罩的光罩图案的影 像至曝光物体上,该光罩包括复数个局部光罩区, 该物体包括复数个局部物体区,各局部光罩区包括 该光罩图案的一部份以便转移至该复数个局部物 体区的不同各区上面,该投影校准器包括: 投影光学系统,其形成该光罩图案的影像至该物体 上; 长度决定器,其测量各该局部光罩区及该局部物体 区的第一方向及第二方向的长度; 尺寸比决定器,其决定各该等局部物体区第一尺寸 及第二尺寸比,该第一及第二尺寸比分别为该第一 方向及第二方向的局部物体区长度对该区部光罩 区长度比;及 放大率控制器,其调整该投影光学系统的放大率至 介于第一及第二平均尺寸比之间的値,该第一平均 尺寸比为该第一尺寸比的平均値,及该第二平均尺 寸比为该第二尺寸比的平均値。 16.如申请专利范围第15项之投影校准器,其中该放 大率控制器调整该投影光学系统的放大率至该第 一及第二平均尺寸比的平均値。 17.如申请专利范围第15项之投影校准器,其中该放 大率控制器调整该投影光学系统的放大率至定义 为(12xm+12ym)/(1lxm+1lym)之値,其中12xm及12ym分别代表 该等局部物体区在第一及第二方向的长度平均値, 及1lxm及1lym分别代表该等局部光罩区在该第一及 第二方向的长度平均値。 18.如申请专利范围第15项之投影校准器,其中该长 度决定器包括: 复数个第一摄影机,其各用于捕捉各该局部光罩区 中的不同一个影像; 复数个第二摄影机,各用于捕捉各该局部物体区中 的不同一个影像;及 影像处理器,其适合从该第一摄影机及第二摄影机 捕获的影像决定各该等局部光罩区及该局部物体 区的第一及第二方向的长度。 19.如申请专利范围第18项之投影校准器,其中各该 等局部光罩区及该等局部物体区的定义为位于各 区的各角落附近一长方型区,并且具有一校准标记 ,及 其中该影像处理器根据该标记之间的距离决定长 度。 图式简单说明: 第一图为根据本发明一具体实施例的投影校准器 构造的示意图; 第二图为第一图所示投影校准器的基板高度侦测 单元构造的示意图; 第三图为第一图所示投影校准器的侧视示意图; 第四图为第一图所示投影校准器的光罩的上视示 意图; 第五图为由第一图所示投影校准器曝光的基板的 上视示意图; 第六图为根据本发明一具体实施例的具有复数个 光罩位置侦测器及复数个物体位置侦测器的投影 校准器的概念示意图; 第七图为光线通过透镜单元及由第一图所示投影 校准器的顶置镜反射的示意图; 第八图为第一图所示投影校准器内光线从光罩射 向基板的示意图; 第九图为投影校准器内光束投影在基板的示意图, 其中调整投影光学系统以放大投影在基板上的影 像; 第十图及第十一图为第一图所示投影校准器在影 像位置获得调整之前及之后光线从光罩射向基板 的示意图;及 第十二图为投影校准器内光束从光源投影在基板 的示意图,其中影像位置调整已经完成。
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