发明名称 |
MONITORING DEVICE AND METHOD FOR TESTING OPTICAL SCANNING DEVICES FOR WORKPIECES IN AN ASSEMBLY INSTALLATION FOR ELECTRICAL SUBASSEMBLIES |
摘要 |
<p>Eine Kontrolleinrichtung (14) zum Überprüfen von optischen Abtastvorrichtungen (10, 12) in einer Montagelinie für elektrische Baugruppen ist einer solchen Baugruppe nachgebildet und wird wie eine solche sukzessive einzelnen Bestückplätzen (7) mit den Abtastvorrichtungen (10, 12) zugeführt. Die Kontrolleinrichtung (14) trägt Kontrollelemente (15) mit Vergleischsflächen, die den Werkstücken entsprechenden optischen Eigenschaften aufweisen. Aus Vergleichsmessungen an den verschieden Bestückplätzen (7) werden Korrekturwerte für Beleuchtungseinrichtungen der Abtastvorrichtungen (10, 12) ermittelt und den jeweiligen Steuereinrichtungen zugeordnet.</p> |
申请公布号 |
WO2005091695(A1) |
申请公布日期 |
2005.09.29 |
申请号 |
WO2005EP50637 |
申请日期 |
2005.02.14 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;HEDRICH, MATTHIAS;RECKTENWALD, DIETER |
发明人 |
HEDRICH, MATTHIAS;RECKTENWALD, DIETER |
分类号 |
H05K13/08;(IPC1-7):H05K13/08 |
主分类号 |
H05K13/08 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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