| 发明名称 |
Semiconductor device having a test circuit |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0978726(B1) |
申请公布日期 |
2005.09.28 |
| 申请号 |
EP19990114692 |
申请日期 |
1999.07.27 |
| 申请人 |
OKI ELECTRIC INDUSTRY CO., LTD. |
发明人 |
SHONA, YOSHIHIRO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/317 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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