发明名称 |
晶体管和半导体电路的制造方法 |
摘要 |
形成一种包含催化剂的物质以同非晶硅膜紧密接触,或将催化剂导入非晶硅膜。在低于通常非晶硅结晶温度下热处理非晶硅膜,使其有选择地晶化。该结晶区用作能用于有源矩阵电路的外部驱动电路中的结晶硅TFT。保持非晶态的区用作可用于象素电路中的非晶硅TFT。本发明可在同一衬底上用同一工艺形成高速操作的结晶硅TFT和漏电流小的非晶硅TFT,从而大大增强了批量生产率和改善了产品诸性能。 |
申请公布号 |
CN1221018C |
申请公布日期 |
2005.09.28 |
申请号 |
CN98116320.3 |
申请日期 |
1994.03.12 |
申请人 |
株式会社半导体能源研究所 |
发明人 |
张宏勇;鱼地秀贵;竹村保彦;高山彻;山本睦夫 |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/00;H01L21/82 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
叶恺东;王岳 |
主权项 |
1.制造晶体管的一种方法,其特征在于,它包括下列步骤:在衬底上制取硅膜,所述硅膜为非晶硅膜;往所述硅膜中加入催化元素,供催化晶化过程用;在400℃-600℃温度范围内的第一温度下对所述硅膜进行退火,以便用镍对所述硅膜晶化;在所述硅膜上形成栅极;通过除所述栅极作为掩模被形成的区域以外的所述硅膜的表面,往所述硅膜的一部分中引入杂质;通过溅射制取含催化元素的物质,使其与硅膜的所述一部分接触;和在低于第一温度的、400℃-600℃温度范围内的第二温度下对所述硅膜进行退火,以晶化所述硅膜的一部分并活化所述引入所述部分的杂质。 |
地址 |
日本神奈川县 |