发明名称 |
接触传感器 |
摘要 |
本文叙述用于探测接触位置的接触探测方法和接触传感装置(100)。当接触传感装置(100)被接触时,设置在支撑层(115)上的第一导电层(110)向第二导电层(120)偏转。通过探测接触位置上的电容变化确定接触位置。通过用参照于导电层(110,120)中的一个导电层的电信号驱动导电层(110,120)中的另一个导电层,并且测量在导电层(110,120)之间的电流而探测接触位置上的电容变化。所探测的变化大于接触传感器的外部电容的变化。 |
申请公布号 |
CN1675653A |
申请公布日期 |
2005.09.28 |
申请号 |
CN03819712.X |
申请日期 |
2003.05.07 |
申请人 |
3M创新有限公司 |
发明人 |
E·M·克罗斯;R·S·莫斯雷夫杂德赫;A·F·切尔尼斯基;F·J·伯塔里;C·A·科德罗;S·C·舒尔茨;M·J·卡道斯卡斯 |
分类号 |
G06K11/16;G06F3/033 |
主分类号 |
G06K11/16 |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
李玲 |
主权项 |
1.一种探测在接触传感器上接触的二维位置的方法,包括:当至少一部分第一透明导电片被移向第二透明导电片时探测第一透明导电片和第二透明导电片之间电容的变化;和通过从该两个透明导电片之间的电容变化得到的信号确定接触的二维立置。 |
地址 |
美国明尼苏达州 |