| 发明名称 |
VARIOUS METHODS AND APPARATUSES TO TRACK FAILING MEMORY LOCATIONS TO ENABLE IMPLEMENTATIONS FOR INVALIDATING REPEATEDLY FAILING MEMORY LOCATIONS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1579460(A2) |
申请公布日期 |
2005.09.28 |
| 申请号 |
EP20030784877 |
申请日期 |
2003.08.01 |
| 申请人 |
INTEL CORPORATION |
发明人 |
YADAVALLI, SITARAM;DRYSDALE, GARRETT;KHAN, HUSNARA |
| 分类号 |
G06F11/00;G06F11/07;G11C29/00;H04B1/74;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G06F11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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