发明名称 Kontaktplatte zur Verwendung bei einer Kalibrierung von Testerkanälen eines Testersystems sowie ein Kalibriersystem mit einer solchen Kontaktplatte
摘要 Die Erfindung betrifft ein Kalibriermodul zur Verwendung bei einer Kalibrierung von Testerkanälen einer Testereinheit mithilfe einer Kalibriereinheit zum Kontaktieren von mit den Testerkanälen verbundenen Kontaktflächen und zum Kalibrieren der Testerkanäle, DOLLAR A wobei das Kalibriermodul eine erste Oberfläche aufweist, auf der erste Kontaktflächen so angeordnet sind, dass die ersten Kontaktflächen durch eine Kontaktierungskarte der Testereinheit in definierter Weise kontaktierbar sind, DOLLAR A wobei das Kalibriermodul eine zweite Oberfläche aufweist, auf der zweite Kontaktflächen so angeordnet sind, dass die zweiten Kontaktflächen mit der Kalibriereinheit kontaktierbar sind, DOLLAR A wobei jeweils eine der ersten Kontaktflächen mit einer der zweiten Kontaktflächen verbunden ist.
申请公布号 DE102004009337(A1) 申请公布日期 2005.09.22
申请号 DE200410009337 申请日期 2004.02.26
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 BUCKSCH, THORSTEN
分类号 G01R31/02;G01R31/28;G01R35/00;H01L21/66;(IPC1-7):G01R35/00 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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