| 摘要 |
Ein drahtloses Test-Verfahren und -System für eine integrierte Schaltung wird präsentiert. Die Erfindung ermöglicht das Testen von einer oder mehreren integrierten Schaltungen, die mit einer drahtlosen Schnittstelle und einem Testzugriffsmechanismus konfiguriert sind, der die Eingabe von Testdaten steuert, die über eine drahtlose Verbindung von einer Teststation empfangen werden, um Strukturen zu testen, die Funktionsblöcke auf der integrierten Schaltung testen. Über die drahtlose Verbindung können mehrere integrierte Schaltungen oder ähnlich ausgerüstete Vorrichtungen, die getestet werden sollen, gleichzeitig getestet werden. Die Erfindung ermöglicht ferner das gleichzeitige Testen von unabhängig testbaren Funktionsblöcken auf einer gegebenen, zu testenden integrierten Schaltung. |
