| 主权项 |
1.一种积体电路测试方法,应用于一积体电路测试机台上,用以对复数积体电路执行测试,该方法包含下列步骤:A)设定一选择模式,用以选择需执行一EQC测试之积体电路;及B)各该需执行该EQC测试之积体电路于通过一FT测试后,直接执行该EQC测试。2.如申请专利范围第1项所述之积体电路测试方法,其中,该选择模式是依据需进行该FT测试的积体电路总数,选择一预定数量之积体电路执行该EQC测试。3.如申请专利范围第1项所述之积体电路测试方法,其中,该选择模式系依一使用者输入之参数,乘以需进行该FT测试的积体电路总数而得到需执行该EQC测试之积体电路的数量,再由该积体电路测试机台依一预定模式选择出符合该等数量之积体电路。4.如申请专利范围第1项所述之积体电路测试方法,其中,该选择模式是选择通过该FT测试之一预定顺位之积体电路执行该EQC测试。5.如申请专利范围第1项所述之积体电路测试方法,其中,该选择模式是对通过该FT测试之积体电路,皆设定一相对应之顺序参数,并当该顺序参数等于一预定测试序号时,对该相对应之积体电路执行该EQC测试。6.如申请专利范围第5项所述之积体电路测试方法,其中,该积体电路测试机台于该顺序参数等于一预定数値时,重置该顺序参数。7.如申请专利范围第6项所述之积体电路测试方法,其中,该积体电路测试机台于重置该顺序参数时,亦重置该预定测试序号。8.如申请专利范围第1项所述之积体电路测试方法,其中,若该积体电路于该FT测试失败,则分类至一预定收集装置。9.如申请专利范围第1项所述之积体电路测试方法,其中,若该积体电路于该EQC测试失败,则分类至一预定收集装置。10.一种积体电路测试机台可读取之记录媒体,记录了让一积体电路测试机台执行下列处理步骤之程式:A)设定一选择模式,用以选择需执行该EQC测试之积体电路;及B)各该需执行该EQC测试之积体电路于通过一FT测试后,直接执行该EQC测试。11.如申请专利范围第10项所述之记录媒体,其中,该选择模式是依据需进行该FT测试的积体电路总数,选择一预定数量之积体电路执行该EQC测试。12.如申请专利范围第10项所述之记录媒体,其中,该选择模式系依一使用者输入之参数,乘以需进行该FT测试的积体电路总数而得到需执行该EQC测试之积体电路的数量,再由该积体电路测试机台依一预定模式选择出符合该等数量之积体电路。13.如申请专利范围第10项所述之记录媒体,其中,该选择模式是选择通过该FT测试之一预定顺位之积体电路执行该EQC测试。14.如申请专利范围第10项所述之记录媒体,其中,该选择模式是对通过该FT测试之积体电路,皆设定一相对应之顺序参数,并当该顺序参数等于一预定测试序号时,对该相对应之积体电路执行该EQC测试。15.如申请专利范围第14项所述之记录媒体,其中,该积体电路测试机台于该顺序参数等于一预定数値时,重置该顺序参数。16.如申请专利范围第15项所述之记录媒体,其中,该积体电路测试机台于重置该顺序参数时,亦重置该预定测试序号。17.如申请专利范围第10项所述之记录媒体,其中,若该积体电路于该FT测试失败,则分类至一预定收集装置。18.如申请专利范围第10项所述之记录媒体,其中,若该积体电路于该EQC测试失败,则分类至一预定收集装置。图式简单说明:图1是一流程图,说明本发明积体电路测试方法的测试流程;及图2是一流程图,说明该积体电路测试方法之一较佳实施例。 |
