发明名称 |
使用飞行时间型二次离子质量分析法的探针载体的分析方法 |
摘要 |
本发明提供可以正确进行配置在载体上的探针状态或该探针与靶核酸有无形成杂交体的分析、例如配置位置的成像或其量的分析的测定用样品的分析方法。对使样品与探针载体反应的在测定用样品中形成的核酸探针的状态或该探针与靶核酸有无形成杂交体在通过可生成由该探针和/或靶物质的碎片化不能生成的碎片离子的标记物质进行标记的状态下,通过利用飞行时间型二次离子质量分析法进行测定检测。 |
申请公布号 |
CN1672040A |
申请公布日期 |
2005.09.21 |
申请号 |
CN03818102.9 |
申请日期 |
2003.06.26 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
冈本尚志;高濑博光;桥本浩行 |
分类号 |
G01N23/225;G01N33/53 |
主分类号 |
G01N23/225 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
陈昕 |
主权项 |
1.检测方法,是用于对配置在基板上的探针和/或可与该探针特异结合的靶物质进行检测的检测方法,其特征是具有准备表面配置了所述探针和/或与该探针特异结合的所述靶物质的基板的工序;以及利用飞行时间型二次离子质量分析法测定所述基板表面的工序,对所述探针或所述靶物质通过可生成由该探针和/或该靶物质的碎片化不能生成的碎片离子的标记物质进行标记。 |
地址 |
日本东京 |