发明名称 | 包含磁致电阻元件的半导体存储装置及其制造方法 | ||
摘要 | 提供一种包含磁致电阻元件的半导体存储装置及其制造方法。该半导体存储装置包括:第一布线;第二布线;存储单元;以及接触栓塞。在层间绝缘膜中形成第一布线。在层间绝缘膜上形成第二布线。存储单元包含在第二布线上形成的第一铁磁性膜、在第一铁磁性膜上形成的隧道阻挡膜、以及在隧道阻挡膜上形成的第二铁磁性膜。在第一布线上形成接触栓塞,它连接第一布线和第二布线,其上表面位于比第二布线高的位置。 | ||
申请公布号 | CN1670859A | 申请公布日期 | 2005.09.21 |
申请号 | CN200510054834.1 | 申请日期 | 2005.03.17 |
申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 福住嘉晃 |
分类号 | G11C11/15;H01L43/08 | 主分类号 | G11C11/15 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 岳耀锋 |
主权项 | 1、一种半导体存储装置,其特征在于包括:在层间绝缘膜中形成的第一布线;在上述层间绝缘膜上形成的第二布线;包含在上述第二布线上形成的第一铁磁性膜、在上述第一铁磁性膜上形成的隧道阻挡膜、以及在上述隧道阻挡膜上形成的第二铁磁性膜的存储单元,以及在上述第一布线上形成,连接上述第一布线和上述第二布线,且其上表面位于比上述第二布线高的位置的接触栓塞。 | ||
地址 | 日本东京都 |