发明名称 |
一种用于控制工业过程的质量的方法和系统 |
摘要 |
用于控制工业过程的质量的方法,包含:获得与该工业过程相关的一个或多个参考信号,获取指示工业过程质量的一个或多个实际信号,比较所述一个或多个参考信号与所述一个或多个实际信号,识别工业过程中的缺陷。该方法还包含:根据所述参考信号获得实部和虚部;根据所述实际信号获得实部和虚部;计算根据所述参考信号获得的所述实部和虚部之间的第一比较量;计算根据所述实际信号获得的所述实部和虚部之间的第二比较量;比较第一比较量和第二比较量,获得与缺陷的存在相关的时间位置信息。 |
申请公布号 |
CN1670648A |
申请公布日期 |
2005.09.21 |
申请号 |
CN200510055816.5 |
申请日期 |
2005.03.16 |
申请人 |
C.R.F.阿西安尼顾问公司 |
发明人 |
G·德安格洛;G·帕斯克塔兹;A·特雷诺 |
分类号 |
G05B23/00;G05B23/02;B23K26/03 |
主分类号 |
G05B23/00 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
王岳;梁永 |
主权项 |
1.一种用于控制工业过程的质量的方法,这种方法包含以下步骤:获得与该工业过程相关的一个或多个参考信号(xref),获取指示所述工业过程质量的一个或多个实际信号(xrea1),将所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个实际信号(xrea1)进行比较,从而识别所述工业过程中的缺陷,根据所述参考信号(xref)获得(100)实部(Iref)和虚部(Rref);根据所述实际信号(xrea1)获得(200)实部(Irea1)和虚部(Rrea1);该方法的特征在于它进一步包含以下操作:计算(101,102,103,104)根据所述参考信号(xref)获得的所述实部(Iref)和所述虚部(Rref)之间的第一比较量(Acref、Fref、mFref、mFref_med);计算(201,202,203)根据所述实际信号(xrea1)获得的所述实部(Irea1)和所述虚部(Rrea1)之间的第二比较量(Acrea1、Frea1、mFrea1);将所述第一比较量(Acref、Fref、mFref、mFef_med)和第二比较量(Acrea1、Frea1、mFrea1)进行比较(204,105,205),从而获得与缺陷的存在(Ga、Gf)相关的时间位置信息(t1、t2、D)。 |
地址 |
意大利奥尔巴萨诺 |