发明名称 | 测定装置、测定方法、及试验装置 | ||
摘要 | 提供一种测定装置,以同步于输出信号产生第一触发(strobe)信号与第二触发信号,每在电子元件使输出信号以复数次输出时,使触发信号之相位加以顺次变化,使输出信号之信号准位,在触发信号之各相位加以复数次取得,对于第一触发信号之输出信号的信号准位为H准位之次数,每在第一触发信号之相位加以计数,对于第二触发信号之输出信号的信号准位为L准位之次数,每在第二触发信号之相位加以计数,基于所计数之次数,加以算出输出信号波形之变化点,起伏变动量、及起伏变动分布。以一次试验加以测定输出信号波形的变化点、起伏变动量、及起伏变动分布。 | ||
申请公布号 | TW200530612 | 申请公布日期 | 2005.09.16 |
申请号 | TW094103342 | 申请日期 | 2005.02.03 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 山根知之;新岛启克 |
分类号 | G01R31/319 | 主分类号 | G01R31/319 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |