发明名称 | 半导体装置及其制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体装置及其制造方法,现有肖特基势垒二极管的VF、IR特性为对调关系,存在为实现低VF化就不能避免漏电流增大的问题。通过用例如钛中含有微量铝的金属层作为肖特基金属层6来构成肖特基势垒二极管,可不使单纯钛的正向电压VF大幅度增加而实现低IR化,故可抑制正向损失,降低反向损失,实现低耗电化。 | ||
申请公布号 | CN1667833A | 申请公布日期 | 2005.09.14 |
申请号 | CN200510004104.0 | 申请日期 | 2005.01.06 |
申请人 | 三洋电机株式会社 | 发明人 | 高山诚 |
分类号 | H01L29/47;H01L29/872;H01L21/329 | 主分类号 | H01L29/47 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 李贵亮;杨梧 |
主权项 | 1、一种半导体装置,其至少包括:一导电型半导体层;金属层,其与该半导体层表面形成肖特基结,其特征在于,所述金属层是由在肖特基金属中含有微量铝的合金构成的金属层。 | ||
地址 | 日本大阪府 |