| 发明名称 |
MEMORY DEVICE HAVING PARALLEL TEST CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20050089900(A) |
申请公布日期 |
2005.09.09 |
| 申请号 |
KR20040015259 |
申请日期 |
2004.03.06 |
| 申请人 |
HYNIX SEMICONDUCTOR INC. |
发明人 |
HONG, YUN SEOK;CHU, SHIN HO |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C7/00;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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