发明名称 |
IGBT-Baugruppe |
摘要 |
Eine IGBT-Baugruppe ist aufgebaut mit einer Mehrzahl von IGBT-Zellen (100), die miteinander verbunden sind. Die IGBT-Chips (100) sind jeweils mit einer Mehrzahl von Einheitszellen (1) aufgebaut, die miteinander verbunden sind. Die Einheitszellen (1) beinhalten jeweils ein IGBT-Element (2). Die Gatespannung wird an das Gate (G) des IGBT-Elements (2) durch einen Gatekontaktfleck (3) und einen Gatewiderstand (4) von einem gemeinsamen Gateanschluss angelegt. Die Emitterspannung wird von einem gemeinsamen Emitteranschluss durch einen Emitterkontaktfleck (5) an den Emitter (E) des IGBT-Elements (2) angelegt. Die Kollektorspannung wird an den Kollektor (C) des IGBT-Elements (2) von einem gemeinsamen Kollektoranschluss angelegt. Der Gatekontaktfleck (3), der Gatetransistor (4) und der Emitterkontaktfleck (5) sind für jede der Einheitszellen (1) vorgesehen. Somit wird eine IGBT-Baugruppe erreicht, die des Unterdrückens einer Gatespannungsoszillation fähig ist ohne den Schaltverlust wesentlich zu erhöhen. |
申请公布号 |
DE102004042798(A1) |
申请公布日期 |
2005.09.08 |
申请号 |
DE20041042798 |
申请日期 |
2004.09.03 |
申请人 |
MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
MOCHIZUKI, KOUICHI;TOMOMATSU, YOSHIFUMI |
分类号 |
H01L25/18;H01L21/822;H01L21/8234;H01L23/538;H01L23/58;H01L25/00;H01L25/04;H01L25/07;H01L27/02;H01L27/04;H01L27/06;H01L27/082;H01L27/088;H01L29/73;H01L29/739;H01L29/78;(IPC1-7):H01L25/07 |
主分类号 |
H01L25/18 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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